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產品故障管理與可測性設計(第二期)

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培訓受眾:

- 研發總監、研發部經理、測試部經理、制造技術部經理、新產品導入(NPI)經理;
- 總工程師、資深硬件工程師、資深軟件工程師、資深其它研發工程師;

課程收益:

- 通過案例導讀和講解的方式,深刻闡述了可測性設計在產品的開發、測試、生產和市場維護中的故障管理及其設計。
- 以可測性設計的基本原理和基本方法為出發點,通過實例來系統深入地講解電子產品的可測性設計理念和解決方案。
- 通過該課程的學習可以掌握電子產品可測性設計的要素和方法。

課程大綱:

1、產品故障管理設計
- 硬件層故障管理支持、單板級故障管理、設備級故障管理及網管級故障管理
- 故障管理設計
2、可測性概念
- 什么是可測性、可測性的能控性和能觀性、可測性設計
- 當前測試面臨的困難、測試方法發展趨勢
- 電子系統功能不正確的原因、缺陷種類、PCB典型故障
- 理想的測試、真實的測試、生產測試、多種測試手段結合、減少測試費用的方法
- 用戶的可測性需求、內部的可測性需求、直通率與可測性
- 故障的影響、可測性的效益
3、可測性設計過程
- 過程概述、DFT規格需求、建立可測性基線
- 方案設計、可測性實現、可測性驗證、可測性評估
- 可測性設計體系、可測性設計組織保證
4、可測性設計的方法和技術
- 可測性設計指標定義、可測性的方法和技術―端到端、可測性設計需求分析方法
- 可測性的分析方法、經驗分析法、D矩陣分析法、器件失效模式庫建庫規則
- 故障檢測常用技術、取值范圍檢測法、比較法、數據一致性檢測、時基檢測法、BIST
- 復雜單板舉例、JTAG技術、JTAG原理、JTAG應用、單板JTAG的一條鏈設計、系統JTAG
- 專項可測性技術:上電自檢技術、電子標簽、存儲器測試、老化中測試、時鐘測試技術
- 案例分析:E公司的DFT架構、C公司DFT、A公司、故障預警
5、總結及問題討論

培訓師介紹:

 
李老師 慧海明科技 產品開發工程(PDE)及可測試性首席專家
從業經驗:
- 有11年大型公司的研發管理和實踐經驗,曾就職于華為(9年)和Lockheed Martin等。
- 是華為2002年首批150位主任工程師之一,并從2003年起為華為產品工程部北研分部負責人,全權負責華為北研分部的產品工程設計(工藝、器件、DFx和生產測試等);個人累計申請專利約15項;
- 曾主持制定華為多部產品工程、生產測試和可測性設計的規范、指導書;
- 曾多次獲得華為公司榮譽獎和優秀教師稱號;負責產品工程業務培訓組織和實施,并制定公司級生產測試和可測性設計教材。
- 在華為,曾主持開發多型號產品,具有豐富的按IPD流程開展的產品開發實踐經驗。
專長:
產品開發工程、研發流程、DFx、生產測試、硬件技術等。

本課程名稱: 產品故障管理與可測性設計(第二期)

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